半導(dǎo)體材料品質(zhì)檢測(cè)設(shè)備之目視檢查燈YP-150I介紹
是宏観観察用的照明設(shè)備,可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中費(fèi)人工的成形製品表面
的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。
概要
1. 可照明様品表面範(fàn)囲於400.000Lx以上。
2. 因使用鹵素光源燈的光源,具有色溫度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。
3. 冷反射鏡受熱影響是鋁鏡的1/3
4. 二段切換構(gòu)造,可用按扭切換高照明観察及低照明観察。
日本sena lamp高照度鹵素強(qiáng)光燈185FI手機(jī)屏幕檢查燈
高照度照明設(shè)備(表面檢查燈)185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。
適合于TFT面板、CF(彩色濾光片),觸摸屏制造等行業(yè)。
標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)成如下。
照度:照射距離 310mm、照射直徑徑 55mmφ時(shí)照度在 400,000 Lux以上)
光源:直流點(diǎn)燈 17V/185W 鹵素?zé)?/p>
照度調(diào)整:連續(xù)可調(diào)至照度的 20%
冷卻方式:強(qiáng)制空冷
使用溫度范囲:0~40℃
電源電圧:AC 95V~AC 260V,50/60Hz
功率:250W
尺寸:光源 136mm H×112mm W×150mm D
電源 229mm H×90mm W×250mm D
重量:光源2.3kg
電源3.6kg
立桿5.0kg
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