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日本電測densoku攜式薄膜厚度計QNIx系列 測厚儀

訪問次數(shù):1057

更新日期:2024-03-18

簡要描述:

日本電測densoku攜式薄膜厚度計QNIx系列
一種便攜式薄膜厚度計,可以通過麻煩的薄膜厚度測量更輕松地提高生產(chǎn)效率。

日本電測densoku攜式薄膜厚度計QNIx系列 測厚儀
類型數(shù)字式測量范圍1

日本電測densoku攜式薄膜厚度計QNIx系列

 

一種便攜式薄膜厚度計,可以通過麻煩的薄膜厚度測量更輕松地提高生產(chǎn)效率。

QNIx系列產(chǎn)品允許您僅使用超輕巧的緊湊型儀器和探頭即可測量薄膜厚度,而無需攜帶重型薄膜厚度計。
無線測量無需電纜。除了有助于將測量數(shù)據(jù)傳輸?shù)絺€人計算機外,它還有助于防止測量期間發(fā)生跌落事故。

QNIx系列的功能

無需進行膜校準即可進行精確的膜厚度測量

通過在出廠時輸入16Point校準數(shù)據(jù)來交付。這樣就無需進行麻煩的薄膜校準工作,并且可以精確測量薄膜厚度。

膜厚測量數(shù)據(jù)傳輸?shù)男录夹g

在常規(guī)的測量儀器中,通過用電纜連接儀器主體和個人計算機來傳輸測量數(shù)據(jù)。QNIx系列使用“無線加密gou”,只需將其插入USB端口即可進行傳輸??梢愿?,更輕松地查看測量數(shù)據(jù)。

超輕量無線測量儀

探頭測得的數(shù)據(jù)無線傳輸?shù)街鳈C。與傳統(tǒng)產(chǎn)品一樣,它也減少了被電纜卡住,阻礙和導致墜落事故的風險。此外,該探頭重30克,重量超輕,因此您不必隨身攜帶沉重的儀器。

難以斷裂且在被測物體上*跡的探針

QNIx系列探頭被增強塑料包圍,可將耐用性提高30%。即使發(fā)生故障,也很容易拆卸和維修,從而縮短了維修時間。此外,還附有紅寶石筆尖,因此您可以安全地進行測量而不會損壞要測量的物體(樣品)。

日本電測densoku攜式薄膜厚度計QNIx系列

QNIx系列比較規(guī)格表

 

QNIx 8500

QNIx
4500/4200

QNIx 7500

QNIx Carcheck系統(tǒng)

方便的QNIx

可測量的電影

[F]鐵材料上的非磁性涂層
[N]非鐵材料上的非導電涂層
[FN]鐵/非鐵材料上的非磁性/非導電涂層

[FN]鐵/非鐵材料上的非磁性/非導電涂層

[FN]鐵/鋁材料上的非磁性/非導電膜厚度

材料識別


自動識別鐵和非鐵材料的交換


自動識別鐵和非鐵材料的交換

用戶的轉(zhuǎn)換


自動識別鐵和非鐵材料的交換

鐵/非鐵,自動識別模式轉(zhuǎn)換

測量原理

[F]磁通量(霍爾效應)
[N]渦流(渦流)

測量范圍

0-2,000μm
(可選:5,000μm )

0-3,000微米

0-2,000μm
(可選:5,000μm )

0-5,000微米

0-500微米

z
分辨率

0.1μm,1μm
[M] 0.01μm

1微米

0.1微米

0.1微米,1微米

5微米

配置格式

0點校正
用戶校準:1
[M] 100件

0點校正

0點校正

沒有校準功能

沒有校準功能

準確性

±(1微米+ 2%)
±3.5%
(2毫米或更多)
[T] ±
(0.3微米+ 2%)

±(2微米+ 3%)

±(1微米+ 3%)

±(1微米+ 2%)
±3.5%
(2毫米或更多)

±(10微米+ 5%)

測量速度

1,500ms
(約40次/分鐘)
[T] 920ms
(約65次/分鐘)
[R] 1,600ms
(約37次/分鐘)

600ms
(約70次/分鐘)

1,300ms
(約46次/分鐘)

1,500ms
(約40次/分鐘)

600ms
(約100次/分鐘)

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