亚洲精品精华液一区二区,中国凸偷窥xxxx自由视频,国产小受呻吟GV视频在线观看,h片在线看

產(chǎn)品展示
PRODUCT DISPLAY
產(chǎn)品展示您現(xiàn)在的位置: 首頁 > 產(chǎn)品展示 > 物理性能檢測 > 膜厚計(jì) >自動膜厚測量系統(tǒng) 測厚儀

自動膜厚測量系統(tǒng) 測厚儀

訪問次數(shù)：1858

更新日期：2024-03-20

簡要描述：

日本filmetrics自動膜厚測量系統(tǒng)F50
F50自動測繪膜厚測量系統(tǒng)是將基于光學(xué)干涉原理的膜厚測量功能與自動高速載物臺相結(jié)合的系統(tǒng)。
以過去無法想象的速度測量點(diǎn)的膜厚和折射率。它支持從2英寸到450毫米的硅基板，并且可以任何測量點(diǎn)。

自動膜厚測量系統(tǒng) 測厚儀
類型數(shù)字式測量范圍1

日本filmetrics自動膜厚測量系統(tǒng)F50

F50自動測繪膜厚測量系統(tǒng)是將基于光學(xué)干涉原理的膜厚測量功能與自動高速載物臺相結(jié)合的系統(tǒng)。
以過去無法想象的速度測量點(diǎn)的膜厚和折射率。它支持從2英寸到450毫米的硅基板，并且可以任何測量點(diǎn)。
還有與大型玻璃基板兼容的可選產(chǎn)品。

主要特點(diǎn)

  • 結(jié)合基于光學(xué)干涉原理的膜厚測量功能和自動高速載物臺的系統(tǒng)

  • 以過去無法想象的速度測量點(diǎn)的膜厚和折射率

  • 兼容2英寸至450毫米的硅基板，可任何測量點(diǎn)

日本filmetrics自動膜厚測量系統(tǒng)F50

主要應(yīng)用

半導(dǎo)體
抗蝕劑、氧化膜、氮化膜、非晶/多晶硅、拋光硅片、化合物半導(dǎo)體襯底、?T襯底等。
平板單元間隙、聚酰亞胺、ITO、AR膜、
各種光學(xué)膜等。
薄膜太陽能電池CdTe、CIGS、非晶硅等
引砷化鋁鎵（AlGaAs）、磷化鎵（GaP）等

測量示例

薄膜厚度分析 FIL Mapper 軟件具有強(qiáng)大而*的薄膜厚度分析算法和可以讓您輕松測量點(diǎn)的功能。


留言框

  • 產(chǎn)品：

  • 您的單位：

  • 您的姓名：

  • 聯(lián)系電話：

  • 常用郵箱：

  • 省份：

  • 詳細(xì)地址：

  • 補(bǔ)充說明：

  • 驗(yàn)證碼：

    請輸入計(jì)算結(jié)果（填寫阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7

聯(lián)系方式
  • 電話

  • 傳真

在線交流