日本csc 潔凈室光塵檢查燈L3SQ

粉塵探測(cè)器L3SQ適合檢查小板形工件和高光滑工件以及檢查異物。 帶有一些伯爵的成型產(chǎn)品也可以。
但是，如果身體的形狀很復(fù)雜，暗場(chǎng)照明的好處就會(huì)喪失。
智能手機(jī)和平板電腦終端的觸摸屏組裝、液晶組裝檢查、液晶面板和板形玻璃（作為材料）的檢查、醫(yī)療器械部件的檢查確認(rèn)、切割膜上的異物確認(rèn)、工作臺(tái)上的異物檢查、主軸上涂漆的樹(shù)脂成型品的異物檢查、層壓薄膜前的異物檢查、 諸如清潔粗顆粒計(jì)數(shù)器RACCAR的硅晶圓等應(yīng)用是經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的應(yīng)用。
此外，它可以有效地用于印刷材料的檢查，例如印刷前的不干膠，光滑度高的金屬板（不銹鋼，鐵，鋁，銅等），培養(yǎng)皿等，以及異物附著力檢查。 除了環(huán)形燈外，還有很多人被熒光燈和其他燈檢查過(guò)，但是如果您被纖維廢料等微小異物所困擾，您應(yīng)該能夠通過(guò)使用灰塵探測(cè)器L3SQ進(jìn)行檢查來(lái)大大提高效率。

從側(cè)面照射是有效的！

當(dāng)薄膜、玻璃、成型品等的工件形狀為平版印刷時(shí)，可以通過(guò)從側(cè)面照射灰塵探測(cè)器L3SQ輕松進(jìn)行粘附灰塵檢查。 這是因?yàn)榛覊m探測(cè)器L3SQ是一種旨在通過(guò)從側(cè)面較低角度發(fā)射光線的“暗場(chǎng)照明"來(lái)提高觀看效果的設(shè)備。 工件略微凹凸不平，即處于上面有微小灰塵的狀態(tài)，但您可以觀察它而不會(huì)錯(cuò)過(guò)它。 這取決于工件表面的狀況，但如果條件良好，則可以目視檢測(cè)到約10μm的灰塵。
另一方面，通過(guò)從正上方照射光線進(jìn)行檢查時(shí)的照明稱為“明場(chǎng)照明"。 這種方法看起來(lái)像是從上方觀察工件，因此很容易檢測(cè)形狀，整體顏色陰影，臟污等的差異，但是由于難以區(qū)分表面上的不規(guī)則性，因此不適合發(fā)現(xiàn)灰塵。 因此，如果要減少粉塵缺陷，不僅要考慮明場(chǎng)照明下的檢查，還要考慮使用灰塵探測(cè)器L3SQ進(jìn)行暗場(chǎng)照明的檢查。
此外，灰塵探測(cè)器L3SQ設(shè)計(jì)用于從上方觀察，同時(shí)照亮側(cè)面。 首先，由于向上泄漏或從工作表面反射的光線較少，因此減輕了操作員眼睛的負(fù)擔(dān)，并且可以高效地工作。
接下來(lái)，條形形狀允許安裝適合側(cè)面照射。

日本csc 潔凈室光塵檢查燈L3SQ

產(chǎn)品特征

	與傳統(tǒng)產(chǎn)品相比，發(fā)光部分的長(zhǎng)度是其長(zhǎng)度的2倍，亮度提高了約2.5倍，因此可以用于較大的工件。	■由于灰塵探測(cè)器L3SQ使用暗場(chǎng)照明方法，因此可以很好地捕獲輕微的不規(guī)則和表面。 有關(guān)暗場(chǎng)照明方法的詳細(xì)信息，請(qǐng)參閱暗場(chǎng)照明部分。
	如果滿足條件，則可以輕松找到最小尺寸約為10μm的污垢和灰塵。 * 當(dāng)目標(biāo)是平坦的表面時(shí)。
	現(xiàn)在可以安裝一個(gè)特殊的綠色濾光片，幾乎不會(huì)降低照度，使其更容易看到。
	準(zhǔn)備了一個(gè)特殊的支架（高度可調(diào)）用于固定。
	照明部分輕巧緊湊，易于操作。 主體上有螺紋孔，也可以連接到設(shè)備或工作臺(tái)上。
	由于使用了LED，因此使用壽命長(zhǎng)并節(jié)省能源。