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更新日期:2024-03-23
簡(jiǎn)要描述:
日本spectra USB簡(jiǎn)易膜厚測(cè)量裝置Handy Lambda Ⅱ Thickness 由于光照射在透明或半透明的薄膜上,并且根據(jù)光的光譜信息計(jì)算薄膜厚度,因此作為一種在不損壞樣品的情況下具有良好再現(xiàn)性的測(cè)量方法而備受關(guān)注。
品牌 | 其他品牌 | 類型 | 數(shù)字式 |
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測(cè)量范圍 | 1 | 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
日本spectra USB簡(jiǎn)易膜厚測(cè)量裝置Handy Lambda Ⅱ Thickness
由于光照射在透明或半透明的薄膜上,并且根據(jù)光的光譜信息計(jì)算薄膜厚度,因此作為一種在不損壞樣品的情況下具有良好再現(xiàn)性的測(cè)量方法而備受關(guān)注。
由于樣品是用光纖照射的,因此可以從任何位置在線使用。
當(dāng)與致動(dòng)器結(jié)合使用時(shí),也可以進(jìn)行簡(jiǎn)單的映射膜厚度測(cè)量。
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硅、氮化硅、氧化硅
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日本spectra USB簡(jiǎn)易膜厚測(cè)量裝置Handy Lambda Ⅱ Thickness
型 | 方便的λII.厚度 | 實(shí)心氧厚度 |
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測(cè)量膜厚度范圍 | 50納米-20微米 | 50納米-100微米 |
薄膜厚度顯示分辨率 | 0.001微米 | 0.001微米 |
測(cè)量重復(fù)性 | 0.01μm以下 | 0.01μm以下 |
接口 | USB2.0 | USB2.0 |