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ceramicforum晶片內(nèi)位錯(cuò)檢測(cè)儀CS-1

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更新日期：2024-05-21

簡(jiǎn)要描述：

ceramicforum晶片內(nèi)位錯(cuò)檢測(cè)儀CS-1
"Crystalline Tester CS1"是非破壞性、非接觸式檢測(cè)可見光（波長(zhǎng)400～800nm）透明性晶體材料中由于殘留的缺陷、應(yīng)力引起的晶格畸變后分布情況的便捷式檢測(cè)設(shè)備。

ceramicforum晶片內(nèi)位錯(cuò)檢測(cè)儀CS-1
品牌其他品牌類型無(wú)損傷
產(chǎn)地進(jìn)口

ceramicforum晶片內(nèi)位錯(cuò)檢測(cè)儀CS-1

ceramicforum晶片內(nèi)位錯(cuò)檢測(cè)儀CS-1

"Crystalline Tester CS1"是非破壞性、非接觸式檢測(cè)可見光（波長(zhǎng)400～800nm）透明性晶體材料中由于殘留的缺陷、應(yīng)力引起的晶格畸變后分布情況的便捷式檢測(cè)設(shè)備。通過(guò)本設(shè)備可以實(shí)現(xiàn)快速、準(zhǔn)確地把握目檢下無(wú)法看到的晶體晶格畸變的狀態(tài)。

ceramicforum晶片內(nèi)位錯(cuò)檢測(cè)儀CS-1

產(chǎn)品特征

產(chǎn)品特長(zhǎng)

  1. 高速測(cè)量（6" 襯底　90秒）
    ?可以最快速度簡(jiǎn)捷方式觀察殘留應(yīng)力分布。

  2. 縱向結(jié)晶評(píng)價(jià)
    ?因?yàn)槭峭敢曅徒Y(jié)晶評(píng)價(jià)裝置，所以不只可以觀察襯底表面，還可以觀察包括Z軸方向的晶圓所有部位。

  3. 可取得與X-Ray Topography imaging comparison同等測(cè)試效果
    ?可以取得同等測(cè)試效果，實(shí)現(xiàn)高速低成本。

  4. 價(jià)格競(jìng)爭(zhēng)力
    ?在晶片測(cè)量裝置中，屬于性價(jià)比好的一款系統(tǒng)。

可測(cè)量材料

  1. SiC單晶襯底、及SiC外延襯底

  2. GaN單晶襯底、及GaN外延襯底

  3. AlN單晶襯底、及AlN外延襯底

  4. 可視光可透視、有雙折射效果的結(jié)晶均可。

測(cè)試效果不佳材料

?無(wú)可視光透視性材料：Si、GaAs等
?無(wú)雙折射效果材料：藍(lán)寶石、Ga2O3 等



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